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了解XRF中的常用“密語”,為檢測加速

在查看xrf分析儀相關的內容時,會留意到信息里常常會出現很多的英文略縮術語。通過這篇文章,我們來了解這些經常會在網站上看到或者在工作中聽到的略縮術語。


xrf


xrf = x射線熒光。是為一種快速的無損檢測方法。用以檢測材料的化學元素組成。像類似的略縮術語有:


edxrf = 能量色散型x射線熒光光譜法。快速、經濟的x射線熒光技術,普遍被運用在手持式的x射線熒光分析儀中。

wdxrf = 波長色散型x射線熒光光譜法。實驗室用的x射線熒光技術,相比較于利用能量色散型x射線熒光光譜法的分析儀,其價格更加昂貴。

hhxrf = 手持式x射線熒光分析儀

pxrf = 便攜式x射線熒光分析儀


探測器


手持式xrf分析儀一般使用兩種類型的探測器:


pin = 硅pin二極管探測器。相較sdd探測器,是一種較為早期、便宜、探測效率慢的一種探測器。

sdd =硅漂移探測器。一種新型探測器,相較pin探測器,計數率為其的10倍。


元素


le =輕元素。輕元素被激發時發射的x射線能量很低,所以難以被我們的探測器接收到。

在判定le的含義時需要結合上下文的內容。因為我們也經常將手持式xrf分析儀能夠測量到的一些輕元素也稱作為le,包括:


鎂 (mg)、鋁 (al)、硅 (si)、磷 (p)、硫 (s)、氯 (cl)、鉀 (k)、鈣 (ca)


圖片2.png


上述輕元素只有利用sdd探測器才能檢測。


在大多數的情況下, le 也代表在化學元素周期表中原子序數低的元素, 這些元素是沒有辦法用手持式xrf分析儀進行檢測的,比如鈉(na), 碳 (c), 氫 (h),以及氧 (o)。


氫(h)到鈉(na): 這些le (藍格子內的) 我們無法使用手持式xrf分析儀探測到。鎂 (mg) 到鈧 (sc): 這些元素 (黃格子內) 無法用pin探測器檢測—需要使用搭載了sdd探測器的手持式xrf分析儀。


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