隨著工業(yè)生產(chǎn)自動(dòng)化水平的提升以及生產(chǎn)流程安全高效運(yùn)行要求不斷提高，行業(yè)對(duì)各類材料以及零部件的成分檢測(cè)提出了更高的要求。易諾科技奧林巴斯提供一系列基于X射線表征材料的儀器，可使客戶在需要時(shí)隨時(shí)隨地進(jìn)行檢測(cè)分析。
X射線衍射（XRD）分析儀BTX III XRD是一款機(jī)身小巧的臺(tái)式分析儀，可以為用戶提供礦物主要成分和次要成分的可靠的定量性礦物學(xué)信息。這款分析儀將性能強(qiáng)大的軟件和改進(jìn)的X射線探測(cè)器結(jié)合在一起使用，提高了檢測(cè)的速度和靈敏度。
BTX III臺(tái)式XRD分析儀
同樣在檢測(cè)分析方面有著出色表現(xiàn)的VANTA Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀，吸引了眾多專業(yè)人士的咨詢、體驗(yàn)。在對(duì)材料進(jìn)行分揀的過(guò)程中，龐大的數(shù)據(jù)量以及雜亂的材料常常導(dǎo)致檢測(cè)的開展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備硅漂移探測(cè)器（SDD），可對(duì)元素進(jìn)行分析，并在幾秒內(nèi)對(duì)合金進(jìn)行牌號(hào)辨別和分揀，能夠快速有效地測(cè)量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。