奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀提供高性能的實時地球化學數(shù)據(jù)，用于土壤重金屬，巖石成分和礦石品位和元素含量的分析。奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀技術的最新進展增加了測量元素的數(shù)量，提高了檢測限，并縮短了分析測試時間。

Vanta?XRF礦石分析儀可用于金礦的現(xiàn)場測試，金礦實驗室測試和精制金礦產品的快速測量勘探。

優(yōu)點：

1.通過XRF礦石元素分析儀分析土壤重金屬，巖石和礦石中的元素，快速顯示潛在的Au礦分布情況；

2.通過使用XRF礦石元素分析儀預篩選樣品，優(yōu)先樣品選擇，分析預算和選定鉆孔目標；

3.通過XRF礦石元素分析儀繪制結構特征圖，建模和矢量化，減少稀釋和做好金礦的回收；

4.通過使用XRF礦石元素分析儀進行巖石地球化學的簡單和快速巖石類型分析。

礦物勘探和礦體矢量的金分析和探測的便攜式XRF礦石元素分析儀：

礦產類型   地球化學特征

造山金 S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg

高硫化淺成熱液 Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn

低硫化淺成低溫熱液 Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au

卡林型 As, Sb, Hg, Tl

斑巖銅金  Cu, Pb, Zn, Ag

Au Skarns Bi, Te, As, Co

侵入性相關金 Bi, W, As, Sb, Mo, Te

VHMS Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2

氧化鐵 Cu-Au (U) F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE

高純度的金 高純度的 Au +/– 以上任何一種

金礦床的相關地球化學特征：

大多數(shù)金礦床都有特定的地球化學特征。XRF礦石元素分析儀分析儀可以檢測這些地球化學特征，使地質學家能夠更好地了解他們工作的地質系統(tǒng)。典型的金探測的伴隨元素包括As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W。

眾所周知，手持式XRF礦石元素分析儀分析儀不支持在地質樣品中直接低水平測量Au（例如，低ppm和ppb）?；趯嶒炇业幕鹪囼灱夹g通常被認為是Au分析的首選方法。Au L級X射線位于X射線熒光能譜的非常擁擠的區(qū)域中。在該部分光譜中，來自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產生假陽性Au測定。

通過XRF礦石元素分析儀直接測量Au可以在特定情況下實現(xiàn)，例如高含量的（> 5ppm）石英脈環(huán)境（相對無干擾）或精制Au產品（其中Au以非常高的濃度存在）。

因此：越來越多的Au現(xiàn)場采礦實驗室正在使用XRF礦石元素分析儀代替實驗室的火試驗技術。